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第11回 ティフ・ラーニング「電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)技術講習会」開催報告
2018年3月9日(金)開催
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第11回 ティフ・ラーニング「電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)技術講習会」開催報告

2018年3月9日(金)開催

「電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)の技術講習会」

 第11回ティフ・ラーニング(TIFNet勉強会)を2018年3月9日(金)に鳥取県産業技術センター機械素材研究所にて開催し27名にご参加いただきました。

 今回の勉強会は、鳥取県産業技術センター機械素材研究所に新しく導入された電界放出型走査電子顕微鏡SU5000について株式会社日立ハイテクフィールディング様、株式会社日立ハイテクノロジーズ様、アメテック株式会社様より3名の講師をお迎え致しました。

前半は、ごく微細なナノメートル領域の表面構造の観察・分析を実現するFE-SEMの他、イオンミリング装置やエネルギー分散型X線検出器の機能、特長、応用事例が紹介され、後半は、実際にSU5000の機器の操作を行い、画像を見ながら説明をしていただいた事で、ご参加いただいた皆様の関心が集まりました。 

受講者27名(鳥取大学3名、学外24名)

プログラム

  
13:15

開会挨拶
地方独立行政法人鳥取県産業技術センター機械素材研究所 草野 浩幸 所長

生命機能研究支援センター 岡田 太 センター長
13:20 プレゼンテーション(1)「産業技術センターにおけるミクロ・ナノメートル領域の観察について」
 地方独立行政法人鳥取県産業技術センター機械素材研究所無機材料科 主任研究員  松田 知子 氏  
プレゼンテーション(2)「電界放出型走査電子顕微鏡SU5000の機能、特長、応用事例の紹介」
 株式会社日立ハイテクフィールディング科学・医用システムサポート本部電装部アプリサポートグループ
                                       中島 里絵 氏        株式会社日立ハイテクノロジーズ関西支店科学・医用システム部            数井 秀大 氏      

プレゼンテーション(3)「エネルギー分散型X線分析器Octane Eliteの機能、特長、応用事例の紹介」
 アメテック株式会社エダックス事業部アプリケーションエンジニア        川畑 正伸 氏

15:15休憩・移動
15:30実演 電子顕微鏡室に移動し、機器のデモンストレーションを見学
16:30 閉会

当日の様子

講演の様子
講演の様子
実演の様子
日立ショットキー走査電子顕微鏡SU5000