第11回ティフ・ラーニング
「電界放出型走査電子顕微鏡（ＦＥ－ＳＥＭ）技術講習会」

2018年3月9日（金）　鳥取県産業技術センター機械素材研究所　参加者29名（うち学外24名）

　第11回ティフ・ラーニング（TIFNet勉強会）を2018年3月9日（金）に鳥取県産業技術センター機械素材研究所にて開催し27名にご参加いただきました。

　今回の勉強会は、鳥取県産業技術センター機械素材研究所に新しく導入された電界放出型走査電子顕微鏡ＳＵ5000について株式会社日立ハイテクフィールディング様、株式会社日立ハイテクノロジーズ様、アメテック株式会社様より3名の講師をお迎え致しました。

前半は、ごく微細なナノメートル領域の表面構造の観察・分析を実現するFE-SEMの他、イオンミリング装置やエネルギー分散型X線検出器の機能、特長、応用事例が紹介され、後半は、実際にSU5000の機器の操作を行い、画像を見ながら説明をしていただいた事で、ご参加いただいた皆様の関心が集まりました。　

受講者29名（鳥取大学5名、学外24名）

13:15	開会挨拶地方独立行政法人鳥取県産業技術センター機械素材研究所草野　浩幸　所長生命機能研究支援センター岡田　太　センター長
13:20	プレゼンテーション（1）「産業技術センターにおけるミクロ・ナノメートル領域の観察について」　地方独立行政法人鳥取県産業技術センター機械素材研究所無機材料科　主任研究員　松田　知子　氏
	プレゼンテーション（2）「電界放出型走査電子顕微鏡ＳＵ5000の機能、特長、応用事例の紹介」　株式会社日立ハイテクフィールディング科学・医用システムサポート本部電装部アプリサポートグループ中島　里絵　氏　株式会社日立ハイテクノロジーズ関西支店科学・医用システム部　数井　秀大　氏
	プレゼンテーション（3）「エネルギー分散型Ｘ線分析器Octane Eliteの機能、特長、応用事例の紹介」　アメテック株式会社エダックス事業部アプリケーションエンジニア　　　　　　　　川畑　正伸　氏
15:15	休憩・移動
15:30	実演　電子顕微鏡室に移動し、機器のデモンストレーションを見学
16:30	閉会

講演の様子

実演の様子

日立ショットキー走査電子顕微鏡SU5000